M. Lehnen;
K. Aleynikova;
P.B. Aleynikov;
D.J. Campbell;
P. Drewelow;
N.W. Eidietis;
Yu. Gasparyan;
R.S. Granetz;
Y. Gribov;
N. Hartmann;
E.M. Hollmann;
V.A. Izzo;
S. Jachmich;
S.-H. Kim;
M. Kocan;
H.R. Koslowski;
D. Kovalenko;
U. Kruezi;
A. Loarte;
S. Maruyama;
G.F. Matthews;
P.B. Parks;
G. Pautasso;
R.A. Pitts;
C. Reux;
V. Riccardo;
R. Roccella;
J.A. Snipes;
A.J. Thornton;
P.C. de Vries;
JET EFDA contributors;
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B. Bazylev;
I. L;
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S. Pestchanyi;
R. Fetzer;
Yu. Igitkhanov;
R.A.Pitts;
S. Putvinski;
G. Arnoux;
S. Brezinsek;
A. Huber;
M. Lehnen;
N. Hartmann;
J.W. Coenen;
G. Saibene;
P. C. Stangeby;
JET EFDA contributors;
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M. Lehnen;
G. Arnoux;
N. Hartmann;
S. Brezinsek;
J. Flanagan;
S.N. Gerasimov;
T.C. Hender;
A. Huber;
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U. Kruezi;
G.F. Matthews;
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V.V. Plyusnin;
C. Reux;
V. Riccardo;
B. Sieglin;
P.C. de Vries;
JET EFDA contributors;
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M. Lehnen;
G. Arnoux;
S. Brezinsek;
J. Flanagan;
S.N. Gerasimov;
N. Hartmann;
T.C. Hender;
A. Huber;
S. Jachmich;
V. Kiptily;
U. Kruezi;
G.F. Matthews;
J. Morris;
V.V. Plyusnin;
C. Reux;
V. Riccardo;
B. Sieglin;
P.C. de Vries;
JET EFDA contributors;
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